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E AFM TIRF
par - 20 juillet 2022
Ce microscope est composé d’un banc expérimental couplant :
(1) un microscopie à sonde locale, AFM (Atomic Force Microscopy) et ses modes électriques dérivés comme le mode Electro-Chimique à Balayage (SECM) ou le mode Microscopie Electro-Mécanique à Balayage (EMSM, voir ci-dessous), pour sonder l’interface pointe AFM/échantillon
(2) un microscope inversé TIRF (microscopie en Fluorescence en Réflexion Totale Interne) techniques d’imagerie par fluorescence à haute résolution spatiale pour une imagerie optimale de l’interface bactérie/surface et une quantification de la bio-adhésion aux surfaces.
Le développement actuel du système porte sur les modes AFM dits « électriques » afin de réaliser une cartographie nanométrique de charges surfaciques. Plus précisément il s’agit d’analyser par AFM l’hétérogénéité des propriétés structurales, mécaniques et électriques de l’échantillon observé ou de simuler les interactions en modifiant soit la nature du substrat solide sur lequel sont immobilisés les échantillons, soit celle de la pointe AFM, que ce soit en modifiant leur constitution chimique ou encore l’état de charge électrique de surface en variant, par exemple, les potentiels électriques appliqués sur les différentes électrodes en jeu (substrat, levier AFM, etc.)