Images STM d’une couche d’alumine nanostructurée (haut) permettant la croissance organisée en réseau hexagonaux de nanoparticles métalliques, semiconductrices ou plasmoniques.
Responsable : Aimeric Ouvrard (CR)
Participants : Céline Dablemont (MCF), Serge Carrez (MCF), Wanquan Zheng (CR)
Doctorants : Keke Yuan, Xingtong Li
Précédents contributeurs : Bernard Bourguignon (DR, retraité en 2022), Henri Dubost (DR, retraité en 2016), Mohamad Ammoun (PhD, 2015-2019), Natalia Alyabyeva (Postdoc 2016-2018), Abdoul-Mouize Zakaria (PhD, 2015-2018), Rudy Desmarchelier (PhD, 2011-2014), Jijin Wang (PhD, 2009-2013), Emilie Bulard (PhD, 2009-2012), Ahmed Ghalgaoui (PhD, 2008-2012), Ziang Guo (PhD, 2006-2010), Aimeric Ouvrard (Postdoc 2007-2009), Frédéric Fournier (PhD, 2000-2003), Serge Carrez (PhD, 1994-1997), Bogdan Dragnea (PhD, 1994-1997), Matthias Büchner (Postdoc 1995-1996), Mihaela Stoica (Postdoc, 1992-1993)
Objectifs : Notre but est d’étudier l’interaction de molécules avec des surfaces nanostructurées qui servent de systèmes modèles d’intérêt pour des applications en électronique ou la catalyse hétérogène. Nous sommes particulièrement intéressés à sonder les propriétés vibrationnelles, structurales et optiques des molécules pour déterminer leur site d’adsorption, leur conformation/orientation et leur interaction avec leur environnement proche (transfert de charge, réactivité). Nous disposons pour cela d’un parc instrumental original de sciences des surfaces permettant d’élaborer des couches minces inorganiques ou organiques et des nanoparticules métalliques, semi-conductrices ou plasmoniques sous vide et d’une palette large d’outils d’analyse des surfaces par spectroscopie optiques linéaire UV/vis et non-linéaire dans le moyen IR, microscopie à effet tunnel (STM), diffraction d’électrons et spectroscopie d’électrons Auger.
Techniques : SFG (sum-frequency generation) : spectroscopie vibrationnelle IR par génération de fréquence somme – STM (scanning tunneling microscopy) : microscopie à effet tunnel – SDRS (surface differential reflectance spectroscopy) : spectroscopie UV/Vis différentielle en réflectivité – GISAXS (grazing incidence angle surface X-ray scattering) : Diffraction de rayons X en incidence rasante – EXAFS () : Spectroscopie d’absorption au seuil de rayons X – LEED (low energy electron diffraction) : diffraction d’électron de basse énergie – AES (Auger electron spectroscopy) : spectroscopie d’électrons Auger.
Actualités :
- Publication d’un article dans Journal of Chemical Physics le 30 septembre 2024